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    • 名称: 半导体(硅片)测厚仪

    • 备注: GP-T-2半导体测厚仪结构紧凑,自带集成式工业电脑,采用高精度大量程光谱共焦测头,该测头高精度、高稳定性,且对于不同材质、不同表面产品具有优异的适用性,使得本品在测量硅片厚度、TTV及弯曲度等参数方
    • 品牌: SAK
    • 规格: GP-T-2

    • 名称: 风力发电机转子间隙测试,风力涡...

    • 备注: 数字电容
    • 品牌: 美国MTI
    • 规格: 数字电容

    • 名称: 3D 激光轮廓传感器

    • 备注: 三维激光轮廓仪
    • 品牌: HIK
    • 规格: MV-DP090 -BSK

    • 名称: 蓝宝石测厚仪

    • 备注: 蓝宝石测厚,蓝宝石测厚仪,蓝宝石厚度测量,非金属材料测厚,薄膜测厚,薄膜测厚仪
    • 品牌: MTI
    • 规格: 8100-2013-410 8100-0013-000

    • 名称: SAK光谱共焦传感器

    • 备注: 光谱共焦传感器液晶显示屏
    • 品牌: SAK
    • 规格: GP- 20- D2 GP- 40- D4 GP- 60-D6 GP-A-40-D2 GP-A-2-D02 GP-A-20-D2 GP-A-80-D82

    • 名称: t030/40雷达测距仪

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    • 规格:

    • 名称: 扁平式电容探头

    • 备注: 扁平式电容位移传感器
    • 品牌: 美国MTI
    • 规格: AFP-250M-CTR/SE* AFP-500M-CTR/SE

    • 名称: 微型电容位移传感器

    • 备注: 微型电容位移传感器
    • 品牌: 美国MTI
    • 规格: AFP-250M-CTR/SE* AFP-500M-CTR/SE

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