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    • 名称: 半导体(硅片)测厚仪

    • 备注: GP-T-2半导体测厚仪结构紧凑,自带集成式工业电脑,采用高精度大量程光谱共焦测头,该测头高精度、高稳定性,且对于不同材质、不同表面产品具有优异的适用性,使得本品在测量硅片厚度、TTV及弯曲度等参数方
    • 品牌: SAK
    • 规格: GP-T-2

    • 名称: Giatec-iCOR钢筋腐蚀...

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    • 名称: SmartRock2混凝土强度...

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    • 名称: 工业内窥镜VJ-ADV6.9M...

    • 备注: 高品质、高性能集多功能于一体的便携式工业内窥镜!
    • 品牌: 日本RF
    • 规格: VJ-ADV6.9MM

    • 名称: 工业内窥镜VJ-STR6.9M...

    • 备注: 集拍照、录像、观察于一体的小巧型便携式多功能工业视频内窥镜!
    • 品牌: 日本RF
    • 规格: VJ-STR6.9MM

    • 名称: MTI MT3TGS测厚仪

    • 备注: microtrak 3测厚仪系统结合的证明激光三角传感器的模块化控制器,可以操作无论是作为一个独立的解决方案,或与PLC / PC microtrak™3 TGS控制器可以检测出范围厚度的条件下在0.
    • 品牌: MTI(美国)
    • 规格: MTI MT3TGS测厚仪

    • 名称: 工业内窥镜VJ-ADV3.9M...

    • 备注: VJ-ADV3.9MM
    • 品牌: 日本RF
    • 规格: VJ-ADV3.9MM

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