加入收藏 | 关注我们
产品搜索：
您现在的位置：产品首页 >> 产品中心 >> 无损检测设备 >> 测厚仪
产品中心
产品中心
  • 产品搜索：
  • 商品分类：
  •  

    • 名称： 半导体(硅片)测厚仪

    • 详细内容
    • 备注： GP-T-2半导体测厚仪结构紧凑,自带集成式工业电脑,采用高精度大量程光谱共焦测头,该测头高精度、高稳定性,且对于不同材质、不同表面产品具有优异的适用性,使得本品在测量硅片厚度、TTV及弯曲度等参数方
    • 品牌： SAK
    • 规格： GP-T-2

    • 名称： MTI MT3TGS测厚仪

    • 详细内容
    • 备注： microtrak 3测厚仪系统结合的证明激光三角传感器的模块化控制器，可以操作无论是作为一个独立的解决方案，或与PLC / PC microtrak™3 TGS控制器可以检测出范围厚度的条件下在0.
    • 品牌： MTI(美国)
    • 规格： MTI MT3TGS测厚仪

首页上一页1下一页末页